當前位置:首頁 >產(chǎn)品中心>無損檢測系統(tǒng)>光彈系數(shù)測試儀>ANA6000P-V立式光彈測試儀
簡要描述:立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應力雙折射/殘余應力,以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
產(chǎn)品簡介:
產(chǎn)品名稱:立式光彈測試儀
型 號:ANA6000P-V
應 用:測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應力雙折射/殘余應力,以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。
安賽斯立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應力雙折射/殘余應力,以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。
立式光彈測試儀主要技術參數(shù):
1. 測試面積(即光源尺寸)
標準尺寸為300 mm×300mm,其它尺寸可以定制,最大600mm×500mm;
2. 相機參數(shù)
2248*2048原始分辨率,輸出4幅1224*1024的偏振圖像。幀率36或79。
3. 應力雙折射量程
基本型: 量程為工作波長的1/4(以紅光為例,量程即157.5nm);
增強型:2296nm。需要采用藍、綠兩種顏色的光源進行測試,并進行相位解包裹處理;
? 3. 測試分辨率與精度
以 0.8mm 厚的鈣鈉玻璃為例:應力測試的分辨率為 0.2MPa:應力測試的精度:1.0MPa。
應力雙折射的測試分辨率:0.1nm, 精度:1.0nm;
產(chǎn)品特色:
與傳統(tǒng)/常規(guī)的光彈儀相比,本立式光彈測試儀具有如下特點:
1. 結(jié)構簡單
主要部件包括:偏振光源、傾斜平臺(用于晶體試件測試)、濾光片轉(zhuǎn)輪、像素偏振相機、高配筆記本電腦(內(nèi)存 16G 以上)及處理軟件,不含任何可旋轉(zhuǎn)的光學偏振器件。
2. 操作簡單,可以實現(xiàn)快速甚至實時測試
只需一次拍照即可同時獲取試件的相位差場和主應力方向場,避免了傳統(tǒng)方法在定量測試時的復雜操作,且在平面應力的條件下可以分離出各應力分量;
3. 靈敏度高且不受環(huán)境光的干擾
測試靈敏度是傳統(tǒng)光彈法/設備的兩倍(物理靈敏度),且無論相位差多小,都可以用最大的灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高);由于采用不同偏振圖像之間的相減運算,使得測試幾乎不受環(huán)境光的干擾。
4. 多種測試波長可選并快速切換
切換方式包括RGB 三色 LED 光源(中心波長分別為:625nm、525nm 和 465nm)的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。
5. 可以根據(jù)客戶要求定制產(chǎn)品
在某些特殊情況下,客戶需要用自己的相機和光源,我們可以根據(jù)需要對產(chǎn)品進行定制,滿足客戶的需要。
安賽斯光彈儀工作原理
設:圓盤試件(直徑D, 厚度d)受對徑壓縮載荷 F 的作用,試件中心點O 的主應力分別是:
根據(jù)應力-光學定律,應力雙折射材料的主應力差與相位差(?)的關系如下:
其中C 為待求的光彈系數(shù),λ 為測試光的波長。
將(1)(2)關聯(lián)起來,有:
通過光彈實驗確定圓形試件中心點的位相差?,即可得到光彈系數(shù)。
實驗示意及應用范圍:
立式光彈儀 :利用應力雙折射性質(zhì),在工程上可以制成各種機械零件的透明塑料模型,然后模擬零件的受力情況,觀察、分析偏振光干涉的色彩和條紋分布,從而判斷零件內(nèi)部的應力分布。
應力雙折射信息
圓盤徑向受壓實驗:
U型塊壓彎組合實驗:
光彈性方法直觀,能直接顯示應力集中區(qū)域,并準確給出應力集中部分的量值;它不但可以得到便捷應力而且能夠求的結(jié)構的內(nèi)部應力。特別是這一方法不受形狀和載荷的限制,可以對工程復雜結(jié)構進行應力分析。
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